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検索結果: 12件メーカー: 日本電子

  カテゴリ メーカー/商品名 希望小売価格 (円/税抜)  
質量分析装置
GC/MSシステム(ガスクロマトグラフ)
日本電子
卓上形GC/QMS JMS-Q1500GC
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質量分析装置
四重極型・トリプル四重極型(QQQ)LC/MS, LC/MS/MS
日本電子
ガスクロマトグラフ三連四重極質量分析計 JMS-TQ4000GC
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質量分析装置
飛行時間型(TOF・Q-TOF・MALDI-TOF)MS
日本電子
アンビエントイオン化高分解能飛行時間型質量分析計 JMS-T100LP+DARTTM イオン源
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質量分析装置
飛行時間型(TOF・Q-TOF・MALDI-TOF)MS
日本電子
大気圧イオン化高分解能飛行時間型質量分析計 AccuTOFTM LC-plus 4G JMS-T100LP
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質量分析装置
飛行時間型(TOF・Q-TOF・MALDI-TOF)MS
日本電子
高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計 AccuTOFTM GCx-plus JMS-T200GC
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構造解析・元素分析装置
核磁気共鳴装置
日本電子
FT NMR装置 JNM-ECZR series
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構造解析・元素分析装置
核磁気共鳴装置
日本電子
FT NMR装置 JNM-ECZS series
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構造解析・元素分析装置
蛍光X線分析装置(XRF)
日本電子
卓上蛍光X線分析装置 JSX-1000S
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
日本電子
ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-7200F
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
日本電子
走査電子顕微鏡 InTouchScopeTM JSM-IT200
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
日本電子
卓上走査電子顕微鏡 NeoScopeTM JCM-7000
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顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器
電子顕微鏡(透過型:TEM・STEM)
日本電子
透過電子顕微鏡 JEM-1400Flash
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