マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間質量分析計
JMS-S3000 SpiralTOF^TM -plus3.0

日本電子 / 日本電子

ID:K03640

JEOL独自のSpiralTOFイオン光学系を採用した超高質量分解能・高感度MALDI-TOFMSシステム

JMS-S3000 SpiralTOF^TM -plus3.0

独自のSpiralTOFイオン光学系
SpiralTOFイオン光学系を採用し、限られた装置サイズの中で約17 mのイオン飛行距離を実現しています。
イオンを各層で再収束させる構造により、高い質量分解能と質量精度を実現します。
Spiralモードでm/z50,000まで測定可能
Spiralモードの測定質量範囲を拡張し、m/z50,000までの測定に対応しています。
これにより、高分子量ポリマーなどの高分子試料の精密質量測定が可能です。
試料表面の不均一性の影響を低減
長い飛行距離により、MALDI測定における試料表面の凹凸による影響を低減します。
不均一な試料でも高い質量分解能と質量精度を維持した測定が可能です。
広いダイナミックレンジ
14-bit ADCを採用し、広いダイナミックレンジでの信号検出を実現しています。
強度差の大きいピークを同時に検出することが可能です。
TOF/TOFおよびLinear TOFオプション
TOF/TOFオプションでは高エネルギーCIDによるタンデム質量分析が可能です。
また、Linear TOFオプションにより高質量試料の高感度測定に対応します。