セミナー情報

恒例となりましたジョイントセミナーを、今年度はワークショップ形式で開催いたします。オックスフォード・インストゥルメンツからは、昨年度にスタートしたSEM用ナノインデンターをメインに、インデンター/EBSDのデータ相互性とin-situ EBSDのご紹介を行います。日本電子からは、インデンターを搭載する高性能&ハイスループットSEMと、インデンター試料作成にも使用されるFIB-SEMのご紹介を行います。

当日は FE-SEM “JSM-IT710HR”の試料室内に、ナノインデンター“NMT04”を設置したLiveデモンストレーションを実施いたします。本セミナーは現地開催のみとなります。実機デモを見学頂ける貴重な機会となっておりますので、ぜひご参加ください。