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ナノ粒子トラッキング解析装置 ZetaView Evolution

Particle Metrix（パーティクル メトリックス） / DKSH マーケットエクスパンションサービスジャパン
ID:K04977

新技術「Concentration Scanning Technology」による信頼性の高いナノ粒子濃度の高感度測定

ZetaView Evolution

  • 粒子サイズ、濃度、ゼータ電位を1クリックで解析
  • 散乱・蛍光モードに対応、最大4レーザーを使用可能
  • 測定設定に依存せず、サンプル全体のスキャンが可能
  • 散乱光 / 蛍光間キャリブレーション不要で、未知のサンプルにも対応
  • 市場最高レベルの高感度NTA装置
  • 新ソフトウェア「ZetaSphere」
  • 細胞外小胞（EV）解析への高い適性
  • F-NTAテトラスパニン検出キットでエクソソームの純度をより正確に評価

仕様

シリーズ ZetaView Evolution
本体のサイズ
(W)x(D)x(H)mm		 200×300×250
重さ 13.5kg
電源 90-240V　47-63Hz　50VA
利用可能レーザ波長 405nm、488nm、520nm、640nm
粒子径測定範囲 10～1,000nm
濃度測定範囲 10E5～10E9個/mL
ゼータ電位測定範囲 -500mV～+500mV
温度範囲 （RT-５℃）～55℃
希望小売価格
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