高い信頼性で、幅広い用途に対応する紫外可視分光ソリューション

Evolution One / One Plus / Pro

Thermo Scientific Evolution分光光度計はユーザーの装置使用体験を一変させます。シンプルなワークフロー、高度な技術、幅広いアクセサリーによって、信頼できる高品質な測定結果を常に得ることができます。

簡単な測定から高度な研究試験まで、Evolution分光光度計は信頼性の高い正確な結果を提供します。シンプルなユーザーインターフェースにより、ワークフローの操作を促し、完全なソリューションにより規制要件への準拠を可能にします。

■関連製品■
生産性が向上するEvolution紫外可視分光光度計用アクセサリー(10ページ参照)

仕様

シリーズ Evolution One Evolution One Plus Evolution Pro
型番 840-341400 840-341500 840-340200
本体のサイズ
(W)x(D)x(H)mm
593×475×266609×526×270
重さ 14.5kg20kg
電源 100~240V、50-60Hz、自動選択 最大150W100~240V、50–60Hz
光学設計 ダブルビーム光学系(サンプルポジションとリファレンスポジション):Czerny-Turnerモノクロメーターダブルビーム光学系(サンプルポジションとリファレンスポジション):Czerny-Turnerモノクロメーター:アプリケーションフォーカスビームジオメトリー(AFBG)ダブルビーム光学系(サンプルポジションとリファレンスまたはアクセサリーポジション):Modified Ebertモノクロメーター
スペクトルバンド幅 1.0nm 可変:1.0nm、2.0nm:用途に最適化されたAFBGマイクロセル光学、AFBG、光ファイバー光学、AFBGマテリアル光学0.5、1.0、1.5、2.0、4.0nmを選択可能
光源 キセノンフラッシュランプ
一般的な寿命:約5年、ライブディスプレイを使用しない場合はさらに長くなります
保証期間:3年間のソース交換保証
検出器 デュアルシリコンフォトダイオードマッチングされたデュアルシリコンフォトダイオード
縦軸基本モード 吸光度、%透過率、%反射率、Kubelka-Munk
Log(1/R)、Log(Abs)、Abs*ファクター、強度
吸光度、%透過率、%反射率、Kubelka-Munk
Log(1/R)、Log(Abs)、ABS*ファクター、強度、1次~4次導関数
グレーティング ホログラフィック、1,200lines/mm、ブレーズド(250nm)ホログラフィック、1,200lines/mm、2ブレーズド(250nm)
ビーム分離 N/A210mm
波長 範囲:190~1,100nm
精度:±0.5nm(541.9nm キセノン、546.1nm 水銀輝線)、±0.8nm(全範囲 190~1,100nm)
再現性:≦0.05nm(546.1nm水銀線、10回測定時の標準偏差)
スキャンスピード:<1~6,000nm/分、可変
データインターバル:10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1nm
範囲:190~1,100nm
精度:±0.20nm(546.07nm 水銀輝線)、±0.30nm(190~900nm)
再現性:≦0.05nm(546.1nm水銀線、10回測定のSD)
スキャンスピード:可変、最大 6,000nm/min
データインターバル:10、5、2、1、0.5、0.2、0.1、0.05nm
測光 範囲:>3.5A
表示範囲:-0.3~4.0A
精度ー機器*1:1A:±0.004A、2A:±0.008A、NISTトレーサブルなNDフィルターを使用して440nmで測定
再現性:1A:±0.0002A
ノイズ:0A:≦0.00015A、1A:≦0.00025A、2A:≦0.00050A、260nm、1.0nm SBW、RMS
ドリフト(安定性):<0.0005A/h、500nm、1.0nm SBW、1時間のウォームアップ
範囲:>4A
表示範囲:±6A
精度ー機器*1:1A:±0.004A、2A:±0.004A、3A:±0.006A、NISTトレーサブルなNDフィルターを使用して440nmで測定
再現性:1A:±0.0001A
ノイズ:0A:<0.00018A、1A:<0.00022A、2A:<0.00050A、500nm、2.0nm SBW、RMS
ドリフト(安定性):<0.0005A/h、500nm、2.0nm SBW、2時間のウォームアップ
迷光 KCl 198nm:≦1%T、NaI 220nm:≦0.05%T、NaNO2 340nm:<0.05%TKCl 198nm:≦0.4%T、NaI 220nm:≦0.032%T、NaNO2 340nm:<0.01%T
ベースライン平坦度 ±0.001A(200~800nm)、1.0nm SBW、平滑化±0.001A(200~800nm)、2.0nm SBW、平滑化
希望小売価格
(税抜)
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*1 機器の性能をテストする場合、合格 / 不合格の決定に使用される仕様は、ここに記載されている機器の仕様と、キャリブレーション証明書に記載されているフィルターのキャリブレーションデータの不確かさを合わせたものです。