高分解能、高感度、コンパクトの連続測定デュアルビュー搭載

5800 VDV ICP-OES

  • IntelliQuant スマートソフトウェア:提示されるエキスパートレベルの知識をもとに、精度の低下につながるスペクトル干渉を特定できます。また、推奨波長が表示されるため、分析に最適な波長をすばやく選択し、不要な再測定を回避できます。
  • アーリーメンテナンスフィードバック(EMF):100 個以上のセンサーで機器の状態をモニタリングして追跡し、メンテナンスが必要になるとアラートでお知らせします。サービス依頼の一般的な原因を解消し、コストや時間の無駄を削減します。
  • 適合バックグラウンド補正(FBC)、高速自動曲線適合テクニック(FACT)、元素間干渉補正(IEC)などのスマートツール:ルーチンサンプルでも複雑なサンプルでも、メソッド開発が簡単になります。
    Neb Alert:ネブライザを継続的にモニタリングし、リークが生じたりクリーニングが必要になると、アラートでお知らせします。トラブルシューティングにかかる時間の無駄やコストを回避できます。
  • バーティカルデュアルビュー(VDV):ビューモードを柔軟に切り替えて干渉を防ぎます。感度が高まり、広い直線ダイナミックレンジが得られます。
    垂直トーチデザイン:クリーニングによるダウンタイムが減少し、トーチの交換頻度が低くなります。
  • 高度な自由曲面光学設計:設置面積が小さくなり、貴重なラボのスペースを節約できます。また、ウォームアップ時間やパージ時間が短縮され、所有コストの削減にもつながります。

仕様

型番 5800 VDV ICP-OES
本体のサイズ
(W)x(D)x(H)mm
625×740×887
重さ 90kg
電源 200V 20A
希望小売価格
(税抜)
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