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電界放出型走査電子顕微鏡・集束イオンビーム（FIB-SEM） Crossbeam Family

カールツァイス / カールツァイス
ID:K02890
ZEISS CrossBeam ZEISS Crossbeam LaserFIB

GEMINIカラム高分解イメージングとハイスループットで3D解析、ナノスケールの微細加工

ZEISS Crossbeam

  • 実績あるGEMINIカラムを搭載し、高分解能と高コントラストを実現
  • FIB加工中のリアルタイム高分解能SEM観察が可能
  • アモルファスダメージを最低限に抑えつつTEMサンプル用超薄切片が作成可能
  • フェムト秒レーザーにより大型試料を超高速で材料加工（LaserFIB）
  • Atlas 5により、迅速で正確なトモグラフィー解析

仕様

シリーズ Crossbeam
希望小売価格
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ZEISS CrossBeam ZEISS Crossbeam LaserFIB
ZEISS CrossBeam ZEISS Crossbeam LaserFIB
  • ※価格及び製品仕様は予告なく変更されることがあります。
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  • ※製品本来の使用目的に合わせてご利用ください。
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