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08顕微鏡・イメージング・病理・組織実験機器

電子顕微鏡(走査型:SEM)・集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)

   メーカー  商品名 希望小売価格 (円/税抜)  
カールツァイス マルチイオンビーム顕微鏡 ORION NanoFab お問い合わせ 
カールツァイス 光・電子相関顕微鏡 Correlative Microscopy お問い合わせ 
カールツァイス 走査型電子顕微鏡 FE-SEM Gemini SEM / SIGMAシリーズ お問い合わせ 
カールツァイス 集束イオンビーム(FIB)-SEM複合装置 Crossbeam お問い合わせ 
サーモフィッシャーサイエンティフィック 分析関連 X線分析アナライザー NORAN System 7 6,000,000~
サーモフィッシャーサイエンティフィック 分析関連 波長分散型(WDS)X線検出器 MagnaRay 24,800,000~
サーモフィッシャーサイエンティフィック 分析関連 電子線後方散乱回折解析装置(EBSD) QuasOr 24,000,000~
日本電子 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-7200F お問い合わせ 
日本電子 走査電子顕微鏡 InTouchScopeTM JSM-IT200 お問い合わせ 
日本電子 卓上走査電子顕微鏡 NeoScopeTM JCM-6000Plus お問い合わせ 
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